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EXCEL SEMICONDUCTOR HER207

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HER201~HER208 2.0A High Efficient Rectifier

EXCEL SEMICONDUCTOR -  Datasheet  - Rev3d  - 1-Jan-2006   Part# :HER207,HER202,HER201,HER208,HER206,HER205,HER204,HER203

Axial Lead Components Packaging Specifications

EXCEL SEMICONDUCTOR -  User's Guide  - Rev. 3e  - 1-Nov-2006

GOOD-ARK Semiconductor合规证书-RoHS声明

Good-Ark Semiconductor公司声明，其所有产品均符合RoHS 2.0标准，满足欧洲议会和理事会关于限制在电气和电子设备中使用某些有害物质的指令（RoHS）的要求。声明中列出了RoHS限制物质的名称及其最大限量，包括镉、铅、汞、六价铬、多溴联苯、多溴联苯醚、邻苯二甲酸二（2-乙基己基）酯等，并强调公司致力于遵守最高质量和环境标准，并承诺保护人类健康和环境。

固锝 -  Test Report  - 2018/2/7

Good-Ark半导体无冲突矿产声明

Good-Ark Semiconductor作为全球领先的离散半导体制造商，提供多种表面贴装、通孔和晶圆器件，以优质、可靠和具有竞争力的成本满足市场需求。公司致力于遵守行业最高质量和环境标准。Good-Ark Semiconductor意识到刚果民主共和国（DRC）东部及其周边国家某些矿产开采中存在的暴力和人权侵犯问题。公司支持电子行业公民联盟（EICC）和全球电子可持续性倡议（GeSI）的行动，并声明其产品不含直接或间接资助或受益于DRC或邻近国家武装集团的锡、钽、钨或金。Good-Ark Semiconductor致力于确保其供应链和全球制造设施中的矿产来源无冲突，并承诺持续监控和更新相关信息，如有违反冲突矿产政策的情况发生，将立即采取纠正措施。如需进一步了解冲突矿产或产品合规性问题，请联系Good-Ark Semiconductor。

固锝 -  Test Report  - 2014/3/19

Semiconductor REACH（SGS）测试报告（SHAEC2204095801）

本报告为MICRODIODE ELECTRONICS (JIANGSU)CO.,LTD.提供的半导体样品的SVHC（高度关注物质）测试报告。报告显示，样品中检测到多种SVHC，包括铅氰胺、铅二硝酸盐、铅氧化物等，浓度均超过0.1%限值。测试依据欧洲化学品管理局（ECHA）发布的SVHC候选清单和WTO通知。报告建议客户根据REACH法规要求，提供足够的信息以确保安全使用，并可能需要准备安全数据表（SDS）。

MDD -  Test Report  - 21 Mar 2022

Semiconductor REACH（SGS）测试报告（SVHC）（SHAEC2207637903）

本报告为SGS对SHINDENGEN（H.K.）CO., LTD.提供的半导体样品进行的SVHC（高度关注物质）筛查测试报告。测试依据欧洲化学品管理局（ECHA）发布的SVHC候选清单和世界贸易组织（WTO）的通知进行。测试结果显示，样品中SVHC含量超过0.1%（w/w），具体物质和浓度见报告详细内容。

SHINDENGEN -  Test Report  - 30 Jun 2022   Part# :MH2501SC,MH2511SC,MCZ5207SG,P170FZ6QNKA,P105-140LF4QNK,D50XB80,D45XT80-160,P64-98LF6QNK,D15XB60-100,D25XB60-100,US15-30KB80R,P240FZ4QNKA,D3SB60-80,D30

良好-方舟半导体关于SVHC USGSREACHX15的合规声明

Good-Ark Semiconductor声明其产品不含有欧洲化学品管理局发布的非常关注物质（SVHC）清单中的物质。公司符合欧盟REACH法规要求，并承诺向客户提供产品中物质信息。清单中列出了多种SVHC候选物质及其应用和限量要求。

固锝 -  Test Report  - June.28th, 2022

Nordic Semiconductor nRF9160-EU Orange集团交付与质量连接证书（Iot）

本资料为Orange Group Delivery & Quality部门颁发的物联网连接证书，针对Nordic Semiconductor nRF9160-EU LTE-M蜂窝模块。证书内容包括产品详细信息、制造信息、软件版本、硬件版本、支持的LTE-M频段、CE版本以及针对不同运营商的特定软件版本。报告还记录了与Orange集团设备要求规范不符的主要技术问题及相应的让步措施，并指出产品已通过连接性验证，但未涵盖模块质量分析和包装定制。

NORDIC SEMICONDUCTOR -  Test Report  - 18/03/2022   Part# :NRF9160-EU

半导体（SGS）测试报告（SHAEC2204093501）

本报告为MICRODIODE ELECTRONICS (JIANGSU)CO.,LTD.提供的半导体样品SS14的测试报告。报告内容包括样品信息、测试项目、测试方法、测试结果等。测试项目涉及RoHS指令限定的有害物质，如镉、铅、汞、六价铬等，以及多溴联苯、多溴联苯醚、邻苯二甲酸酯等。测试结果显示，样品中所有有害物质的含量均低于限值要求。

MDD -  Test Report  - 21 Mar 2022

HER301~HER308 3.0A High Efficient Rectifier

EXCEL SEMICONDUCTOR -  Datasheet  - Rev 3d  - 1-Jan-2006   Part# :HER301,HER308,HER307,HER306,HER305,HER304,HER303,HER302

M1~M7 1.0A Surface Mount Rectifier

EXCEL SEMICONDUCTOR -  Datasheet  - Rev. 3d  - 1-Jan-2006   Part# :M1,M2,M3,M4,M5,M6,M7

1N5391~1N5399 1.5A Rectifier

EXCEL SEMICONDUCTOR -  Datasheet  - Rev .3d  - 1-Jan-2006   Part# :1N5391,1N5393,1N5392,1N5395,1N5397,1N5399,1N5398

FR101~FR107 1.0A Fast Recovery Rectifier

EXCEL SEMICONDUCTOR -  Datasheet  - Rev 3d  - 1-Jan-2006   Part# :FR101,FR102,FR103,FR104,FR105,FR106,FR107

ZY5.1~ZY51 Zener diode

EXCEL SEMICONDUCTOR -  Datasheet  - Rev. 3e  - 1-Nov-2006   Part# :ZY8.2,ZY9.1,ZY7.5,ZY5.6,ZY5.1,ZY6.2,ZY36,ZY15,ZY12,ZY13,ZY18,ZY16,ZY39,ZY43,ZY22,ZY20,ZY47,ZY24,ZY27,ZY51,ZY10,ZY11,ZY33,ZY30,ZY6.8

DB3 DIAC

EXCEL SEMICONDUCTOR -  Datasheet  - Rev. 3g  - 1-Sep-2009   Part# :DB3

SMB5913B3~SMB5942B3 Zener diode

EXCEL SEMICONDUCTOR -  Datasheet  - Rev. 3e  - 1-Nov-2006   Part# :SMB5941B3,SMB5942B3,SMB5920B3,SMB5940B3,SMB5922B3,SMB5921B3,SMB5924B3,SMB5923B3,SMB5914B3,SMB5937B3,SMB5915B3,SMB5936B3,SMB5916B3,SMB5939B3,SMB5917B3

SMA5C3V3 ~SMA5C39 Zener diode

EXCEL SEMICONDUCTOR -  Datasheet  - Rev. 3e,  - 1-Nov-2006   Part# :SMA5C13,SMA5C12,SMA5C11,SMA5C33,SMA5C10,SMA5C30,SMA5C18,SMA5C39,SMA5C16,SMA5C15,SMA5C36,SMA5C6V8,SMA5C4V7,SMA5C5V6,SMA5C3V9,SMA5C7V5,SMA5C24,SMA5C22,S

MTZJ Series Zener diode

EXCEL SEMICONDUCTOR -  Datasheet  - Rev. 3e  - 1-Nov-2006   Part# :MTZJ 27,MTZJ 22,MTZJ 24,MTZJ 4.7,MTZJ 5.6,MTZJ 3.9,MTZJ 7.5,MTZJ 20,MTZJ 6.8,MTZJ 4.3,MTZJ 6.2,MTZJ 2.7,MTZJ 3.6,MTZJ 8.2,MTZJ 9.1,MTZJ 3.0,MTZJ 2.2,M

MLL746A~MLL759A Zener diode

EXCEL SEMICONDUCTOR -  Datasheet  - Rev. 3h  - 12-Jul-2011   Part# :MLL754A,MLL753A,MLL752A,MLL751A,MLL750A,MLL749A,MLL759A,MLL748A,MLL747A,MLL758A,MLL746A,MLL757A,MLL756A,MLL755A

Product/Process Change Notification HER207G

SECOS -  PCN/EOL  - 2014/9/1   Part# :HER207GD

HS6B等半导体行业解决方案

本文介绍了IDEC为半导体制造设备提供的各类产品，包括前端、后端和检测过程的产品。产品范围广泛，从启动开关、条码扫描仪到紧凑型继电器和推入式端子，旨在提高设备性能、减少停机时间并确保操作员安全。文章还强调了IDEC在提高可靠性、降低成本和符合SEMI标准方面的承诺，以及其全球部署和标准化发展的支持。

IDEC -  Supplier and Product Introduction  - March, 2021   Part# :HG2G-V,SERIES HR5S-C2S,SA2E,SE2L,SERIES FT1A,LF1B-N,SERIES HG4G-V,SERIES RU,HS7A,LBW SERIES,HS3A,CW SERIES,FS1A,SERIES RJ,KW2D,NC1V,SERIES HR5S-C2D-T

半导体测试手册

NI公司提供创新的半导体测试解决方案，旨在降低测试成本并提高上市时间。其PXI平台和软件架构支持从实验室到生产线的全流程测试，包括高度集成的模块化硬件和软件连接的架构。NI的解决方案包括用于生产测试的STS系列系统，以及TestStand测试管理软件和LabVIEW图形编程环境。这些工具帮助芯片制造商应对不断变化的行业需求，提高测试性能和灵活性。

NATIONAL INSTRUMENTS -  Supplier and Product Introduction  - 2021/07/23
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